• SGC-10 薄膜测厚仪

  - 仪器介绍SGC-10薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪，是我公司与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司先进的薄膜测厚技术，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数（折射率n，消光系数k）。通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，用软件来拟合运算，得到单层或多层膜系各层的厚度d，折射率n，消光系数k。该设备关键部件均为国外进口，也可根据客户需要整机进口。   - 强大的软件功能界面友好，操作简便，用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大，可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。 - 产品功能适用性该仪器适用于多种介质，半导体，薄膜滤光片和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。 - 典型的薄膜材料为SiO2、CaF2、MgF、光刻胶、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亚胺、高分子膜。 - 典型的基底材料为SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、铝丙烯酸、蓝宝石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。仪器具有开放性设计，仪器的光纤探头可很方便地取出，...
• LY-1 CCD杨氏模量测量仪

  - 仪器介绍LY-1型 CCD杨氏模量测量仪采用显微镜和CCD成像系统。 - 产品特点· 显示器观察· 结构紧凑· 调节使用方便 - 实验内容1、测量杨氏模量
• LY-2 杨氏模量测量仪

  - 仪器介绍 - 产品特点· 采用读数显微镜观测· 通过读数显微镜直接读取数据· 调节使用方便 - 实验内容1、杨氏模量测量相对不确定度：＜5%- 基本配置及参数
• SGC-1A 椭圆偏振测厚仪

  - 仪器介绍近代科学技术的许多学科对各种薄膜的研究和应用日益广泛，因此，测得薄膜厚度和光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中，常常使用椭圆偏振法来进行测量。这种方法测量灵敏度和精度较高，并且是非破坏性测量。他能同时测定薄膜的厚度和折射率。本产品为手动方式调节仪器，测量薄膜的厚度和光学参数。清晰的展示了椭圆偏振测厚仪的各个部件的结构功能，调节方法，使用户可详细的了解椭圆仪的原理结构，并培养其动手操作能力。- 基本配置及参数
• SGC-2 自动椭圆偏振测厚仪

  - 仪器介绍椭圆偏振法测量的原理很早就已提出，相应的测试方法和设备也不断地被改进和创新，使得椭圆偏振法成为重要的测试手段，并广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域。其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法最基本、最重要的应用之一 。 - 产品特点· 仪器采用消光式椭圆偏振方式测量    · 精度高、自动控制   · 光源采用氦氖激光，波长精度高   · 仪器采用USB接口与电脑连接  · 配套软件对采样数据具有多种处理方式，适用于不同需要   · 软件有完整版及学生版两种版本，适于教学要求- 实验内容1、测量杨氏模量- 基本配置及参数