- 仪器介绍
本实验研究高斯光束的特性参数，高斯光束通过薄透镜的传输和变换性质，以及高斯光束的整形研究，重点对光束质量的评价和测量进行了阐述。 建立了一套以CCD为光斑探测器，结合计算机和测量软件的光斑测量系统。测量了He-Ne激光器的光束光强分布，计算出高斯光束参数，并用双曲线拟合法测量出质量因子。整套系统光路结构简单，使用面阵CCD作为探测系统，并对图像进行必要的处理。随后选取经过校准的数字图像信号进行分析和计算，求出激光束的相关参数。本实验涉及光、机、电等方面知识，很适合于光学专业实验教学，也可用于普通要求下的光斑测量。
- 可开设实验
- 规格参数
