- 仪器介绍
本实验研究高斯光束 的特性参数，以及高斯光 束通过薄透镜的传输和变 换性质，重点对光束质量 的评价和测量进行了阐述。 建立了一套以CCD为光 斑探测器，结合计算机和 测量软件的光斑测量系统。测量了He-Ne激光器的光束光强分布，计算出高斯光束参数，并用双曲线拟合法测量出质量因子。整套系统光路结构简单，使用面阵CCD作为探测系统，激光束经衰减后直接照射在CCD上，这样CCD采集到的图像大小和形状与入射的激光光束截面大小和形状相同(用像素的大小表示)。并对图像进行必要的处理，主要是进行图像平滑处理和进行图像灰度校准。随后选取经过校准的数字图像信号进行分析和计算，求出激光束的相关参数。本实验涉及光、机、电等方面知识，很适合于光学专业实验教学，也可用于普通要求下的光斑测量。
- 产品特点
· 1、本实验属于激光原理系列实验，契合光电信息实验室建设需要。
· 2、实验系统做了精简设计，操作更加方便。
· 3、采用德国进口工业CCD摄像机，灵敏度更高，动态范围更宽。
· 4、带软件开发包，方便客户基于CCD相机进一步开发新的实验。
- 实验内容
1、高斯光束参数测量实验，光斑直径，发散角，束腰半径，能量分布图形。
2、高斯光束的变换和参数测量。